প্রবর্তক কোর এর ক্ষতির কারণ

চিপ ইনডাক্টর কোরের ক্ষতি মূলত মূল ক্ষতি এবং কুণ্ডলী ক্ষতি থেকে উদ্ভূত হয় এবং এই দুটি দিকগুলির ক্ষতির পরিধিটি তার বিভিন্ন সার্কিট মোড অনুসারে বিচার করা প্রয়োজন। তাদের মধ্যে মূল ক্ষতি প্রধানত মূল উপাদানগুলির বিকল্প চৌম্বকীয় ক্ষেত্রের কারণে ঘটে এবং এটি দ্বারা উত্পন্ন ক্ষতিটি অপারেটিং ফ্রিকোয়েন্সি এবং মোট ফ্লুক্স সুইং (Δ বি) এর একটি ফাংশন যা কার্যকরীভাবে সঞ্চালনের ক্ষতিকে হ্রাস করে। কুণ্ডলী ক্ষতি হ'ল চুম্বকীয় শক্তির পরিবর্তন দ্বারা সৃষ্ট ক্ষয়ক্ষতির কারণে, যা বিদ্যুৎ উৎপাদক বর্তমান প্রবাহের সময় চৌম্বক ক্ষেত্রের শক্তি হ্রাস করে।
ক্ষতি হ্রাস করার জন্য আবর্তক কোর:
1. ইনডাক্টর কোরে উৎপন্ন মূল ক্ষতি হ'ল ইনডাক্টর কোর ক্ষতি বৃদ্ধি হিসাবে অনুমোদিত তামার ক্ষতি হ্রাস করবে, এবং একই ফ্লক্স কোর উপাদান ফ্লক্স ঢেউও নিয়ে আসবে। অতএব, যখন সুইচিং ফ্রিকোয়েন্সি 500 কিলোজাইটের বেশি হয়, ইনডাক্টর কোর হসন এবং হুইনিং এসি লস ইনডাক্টরের ডিসি প্রোটেক্টিকে হ্রাস করতে পারে।
2. কুণ্ডলী মধ্যে প্রবর্তক কোর ক্ষতি প্রধানত তামা তারের ক্ষতি উদ্ভাসিত হয়। অতএব, তামার তারের ক্ষতি হ্রাস করার জন্য, যখন প্রবর্তকের মূল বৃদ্ধি হ্রাস করা হয় এবং ক্ষতি হ্রাস হওয়া পর্যন্ত ক্ষতি সমান হয় তখন এটি হ্রাস করা আবশ্যক। সবচেয়ে ভাল ক্ষেত্রে যে ক্ষতি উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সি স্থিত স্থিতিশীল এবং চৌম্বক গঠন থেকে সর্বোচ্চ আউটপুট বর্তমান অনুমতি দেয়।

আরো তথ্যের জন্য, sales@xfullstar.com এ আমাদের সাথে যোগাযোগ করুন